百科释义
不合格品率控制图也称p控制图，属于计件值控制图，统计基础为二项分布B(n，p)。p控制图主要用于判断生产过程中的不合格品率p是否保持在所要求的统计受控状态。当p控制图的监控对象为不合格品率时，某一过程处于统计受控状态是指由该过程形成的任何单位产品不合格品的概率为一固定常数P，而且各个单位产品是相互独立的。这样，由该过程形成的每一个单位产品都是具有参数P的二项随机变量的一个实现。
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